学外利用可能設備一覧

■磁気共鳴装置関連
 核磁気共鳴装置 500MHzNMR(Bruker
 核磁気共鳴装置 400MHzNMR(Bruker)(A),(B
 核磁気共鳴装置 400MHzNMR(Bruker)(C
 核磁気共鳴装置 400MHzNMR(JEOL
 電子スピン共鳴装置 ESR(日本電子

■電子顕微鏡関連
 電界放出形透過電子顕微鏡 FE-TEM, JEM-2100F(日本電子)
 透過電子顕微鏡 TEM, JEM-1400(日本電子)
 電界放出形走査電子顕微鏡 FE-SEM, S-5500(日立ハイテク)
 走査電子顕微鏡 SEM, JSM-6610LA(日本電子)
 走査電子顕微鏡 JSM-IT100 (日本電子)
 複合ビーム加工観察装置(FIB/SEM) JIB-4500(日本電子)
 精密イオンポリシング Model.691 (Gatan)
 ディンプルグラインダー Model.656 (Gatan)
 ディスクグラインダー Model.623 (Gatan)
 精密切断 IsoMet Low speed saw  (ビューラー)
 イオンコーター IB-3 (エイコー)
 カーボンコーター CADE-E  (メイワフォーシス)
 真空蒸着 JEE-420 (日本電子)
 ウルトラミクロトーム UC6/FC6(ライカ)

■X線関連
 試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV(リガク
 X線回折-示差走査熱量同時測定装置 XRD-DSC(リガク)
 小角・広角X線散乱/回折装置(ナノスケールX線構造評価装置) NANO-Viewer(リガク)
 小角・広角X線散乱/回折装置(ナノスケールX線構造評価装置) NANOPIX(リガク)
 単結晶X線回折装置 XtaLaB Synergy-DW (リガク
 エネルギー分散型蛍光X線分析装置 S2-RANGER(Bruker)

■有機元素分析
 CHN同時分析装置 MICRO CORDER JM10(ジェイサイエンス)
 異種元素(ハロゲン,S)同時測定装置 HSU-20(ヤナコ)+ICS-1100(サーモ)
 全自動元素(CHN)分析装置 Vario EL cube (Elementar)
 全自動元素(O)分析装置 Vario micro cube (Elementar) 

■ICP分析装置
 ICP発光分光分析装置 ICPS-8100(島津製作所)
 ICP質量分析装置 ELAN-DRC-e(パーキンエルマージャパン)

質量分析装置
 ESI-TOF-MS micrOTOFⅡ(Bruker Daltonics
 二重収束型質量分析装置 JMS-700(日本電子)
 MALDI-TOF-MS UltrafleXtreme(Bruker Daltonics

■熱分析関連
 示差熱-熱重量同時測定装置 TG-DTA(DTG-60 島津製作所)
 示差熱天秤-光イオン化質量分析同時測定システム ThermoMass Photo(リガク
 示差走査熱量測定装置 DSC8500(パーキンエルマー)

■走査型プローブ顕微鏡
 原子間力顕微鏡 AFM (Oxford instruments
 原子間力顕微鏡 MultiMode 8(Bruker)

■その他
 多角度光散乱検出器システム MALS (昭光サイエンス
 分光エリプソメーター ELC-300 (日本分光)
 時間分解吸収分光解析システム TRASAS (浜松ホトニクス
 超高速液体クロマトグラフィー UPLC (Waters
 触針式プロファイリングシステム DektakXT-A(Bruker)
 接触角計 DSA100(KRÜSS)
 偏光顕微鏡 BX50(オリンパス)

【お問い合わせ】
 お問い合わせは、オープンファシリティセンター研究基盤戦略室までお願いします。
 office(@)ofc.titech.ac.jp   *(@)を@に置き換えてください。

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