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利用について

 大岡山分析部門ウェブサイトをご覧いただきありがとうございます。

 当部門は本学の2016年度の学院改組とともに、大岡山分析支援センターから大岡山分析部門へと名称変更が行われました。度々の名称変更で、ご利用の皆様にはご不便をおかけしますが、当部門は分析や測定・観察に関する研究支援業をそのまま継続して行って参ります。つきましては、当部門をお利用になる方へ簡単なご案内を申し上げます。よろしくお願いいたします。

 大岡山分析部門とは

 当部門の業務は、学内の共用分析設備の管理及び施設を用いた学内向けの研究支援サービスとなります。保有している装置について、大きく分けて「依頼分析」「セルフユーザー利用」の2通りの利用方法があります(装置によってはどちらか一方のみもあります)。また、無機結晶構造や粉末X線回折データベースを利用解放しているほか、当部門の施設見学も行っております。

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 利用できる分析装置

X線分析 ・微小部X線回折計
・卓上型粉末X線回折計
・温調ステージ付粉末X線回折計
・薄膜X線回折計
・エネルギー分散型蛍光X線分光分析(EDS)
   
元素・分光分析 ・ICP発光分析装置(ICP-OES)
・ICP質量分析装置(ICP-MS)
・レーザー顕微ラマン分光光度計
・フーリエ変換赤外分光分析装置(FT-IR)
・電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)
・オージェ電子分光分析装置(FE-AES)
・飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)
   
電子顕微鏡 ・透過電子顕微鏡(100kV TEM、120kV TEM、200kV FE-TEM 計3台)
・走査電子顕微鏡(FE-SEM 3台、SEM 1台)
・ウルトラミクロトーム
・収束イオンビーム試料加工装置(FIB)
・走査プローブ顕微鏡(SPM)

各装置の仕様については「装置情報」よりご確認ください。

装置情報メニューを見る

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 施設利用について

 施設利用時間は 平日9:00 ~ 17:00 となっています。土曜、日曜、祝日の他、学内に入構できない日は利用できません。施設利用中に災害が発生した場合は、当部門の職員の指示に従ってください。

 利用に関するお問い合わせには、「お問い合わせ」メニューよりご案内している宛先へメールでの連絡をお願いします。

 利用申し込みの際に、こちらで得られた結果を用いた発表等には大岡山分析部門の利用を明記し、発表情報を報告することにお願いしています。分析機器、設備を利用したデータを含む論文、学会発表(予稿集等)がありましたら、別刷を1部提出願います。(題目、著者名、掲載誌名のリストでも結構です。また当部門のウェブページからでも承れます。)今後の分析機器更新等の参考とさせていただきますので、ご協力のほどよろしくお願いいたします。

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 依頼分析とは

 依頼分析は当部門に試料の分析や観察を依頼する利用形態です、部門の装置を用いて、分析や観察を職員に依頼してデータを得たい場合にご利用ください。

 ご希望の方は「依頼・講習・見学」メニューの「依頼分析」より申請書類をダウンロードして、予算詳細責任者の許可を得たうえでお申し込みください。担当者からの回答の後、予算詳細責任者の押印と当部門発行の予算シールを貼付した申請書類を試料と一緒に指定された日にお持ちください。書類の送信だけでは受付とはなりませんので、必ず担当者の回答を確認してください。

 なお、分析・観察のためにはその目的や材料を具体的な情報が必要です。職員には守秘義務があるため、依頼内容が他人に知られることはありませんので、お申込に際して詳細を明示していただけない試料についてはお引き受けできないことがあります。また当方で危険物と判断したものは受け付けられません。(法令や安全基準に準拠。)

依頼分析メニューを見る
※申請書類のダウンロードは学内からのみ可能です。

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 セルフユーザー利用とは

 セルフユーザー利用とは、当部門が保有する装置およびソフトウェアを本学所属の教職員または学生がご自身で使用する利用形態です。装置をご自身で使用して測定を行いたい場合にご利用ください。

 セルフユーザー利用希望者は、必ず担当者から直接セルフユーザーライセンス講習を受けてください。装置の講習をご希望の方は「依頼・講習・見学」メニューの「セルフユーザー講習」より申請書類をダウンロードしてお申し込みください。

 セルフユーザーライセンスは講習を受けた個人に対して与えています。セルフユーザーが第三者に使い方を教えること、登録されたセルフユーザー以外の方のセルフ利用は一切認めていません。持ち込んだ試料・試薬類、得られたデータは必ずお持ち帰りください。

 これらに違反した場合はライセンスを停止し、部門長からその旨を指導教員に連絡させていただきます。また、セルフユーザー利用において講習から著しく逸脱した使い方により当部門の機器に損害を与えた場合、その使用に関する費用支払責任者に対して、機器を現状復帰するに必要な費用を負担していただくことがあります。

 セルフユーザーに解放している機器は、Web予約と予約状況確認がホームページ上から行えますのでご活用ください。(装置によっては例外あり。セルフユーザー登録者のみ利用可。セキュリティの関係から学外からのアクセスは不可。)

セルフユーザー講習メニューを見る
※申請書類のダウンロード、および予約システムのアクセスは学内のみになります。

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 粉末X線解析ソフトウェアの利用について

 X線分析では測定装置だけではなく、ICDD編纂の粉末X線回折データベース(PDF-4)のほか、相同定、未知結晶構造解析、リートベルト解析など、応用解析が可能な統合ソフトウェアについても利用解放しています。研究室や外部機関(KEK、Spring-8等)での測定データの解析にご利用いただけます。

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 部門見学について

 当部門にご興味をお持ちの方については施設の見学も受け付けております。
見学をご希望の方は、「依頼・講習・見学」メニューの「部門見学」より見学申請書をダウンロードし、必要事項をご記入の上メールでお送りください。

 内容準備のため、見学希望日の10日前までにはお申し込みください。教育機関等を除き、原則として学外からの直接の見学依頼は受け付けません。見学目的によってはお断りする場合がございますので、予めご容赦下さい。

部門見学メニューを見る

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 利用できる予算と支払について

 分析にかかる費用(消耗品、必要な維持費)は利用者負担となります。必ず本学の予算詳細コードを持った予算詳細責任者の許可を受けてからご利用ください。予算詳細責任者が教員でない場合、利用者がその責任者であるときのみ利用可能です。額にかかわらず現金での利用はできません。

 利用時に支出財源を提示していただくため、事前に「kakin@cama.(titech.ac.jp)」まで予算詳細コードをお知らせください。こちらで予算シールをお送りしますので、「依頼分析」「セルフ利用」の際には必ずこのシールを申請書類に貼ってください。請求は毎月末〆で、年12回の学内振替といたします。

 支払いは本学の予算コードがついていれば、基本的にどの財源でもお使いいただけます。使用可能期間、使途は予算によって異なりますので、あらかじめ財源元にご確認ください。ただし事務処理の関係上、1月~3月の支払いは年度を超えて使用できる予算(運営交付金など)のみとなり、その振り替えは翌年度になりますこと、あらかじめご了承ください。

 料金表はホームページ内に掲載しておりますのでご参照ください。

利用料金を見る(2017年7月現在)

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 ご質問やご相談について

 よくある質問や、どの装置を使えばよいかについては、「お問い合わせ」内に掲載してあります。事例に当てはまらない内容やご不明な点は「 soudan@cama.(titech.ac.jp)」にお問い合わせいただければ、担当より回答いたします。

 また、予算コードの登録、追加、シールの発行については「 kakin@cama.(titech.ac.jp)」にご連絡ください。

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