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利用可能装置一覧

 X線分析

装置種 装置種 装置名 依頼分析 セルフ利用
XRD(粉末) 粉末X線回折計 X'Pert-MPD-OES
XRD(薄膜) 薄膜材料結晶性解析用X線回折装置 X'Pert-Pro-MRD
XRD(微小部) 微小部X線回折装置 D8 DISCOVER μHR
XRD(粉末) 卓上X線回折計 Mini Flex 600
XRF X線プローブマイクロアナライザー μ-probe EDX
ソフトウェア 粉末X線解析ソフト PDXL、HIGHSCORE ×

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 元素分析・分光分析

装置種 装置種 装置名 依頼分析 セルフ利用
ICP-OES ICP発光分析装置 5100 VDV ICP-OES
ICP-MS ICP質量分析装置 7700x
RAMAN レーザー顕微ラマン分光光度計 NRS-4100
FT-IR フーリエ変換赤外分光分析 JIR-SPX200
Auger 電界放射型電子銃オージェ分光装置 JAMP-9500F
EPMA 電子プローブマイクロアナライザー JXA - 8200
TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS 5-100-AD ×

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 電子顕微鏡・試料作製

装置種 装置種 装置名 依頼分析 セルフ利用
FE-TEM 電界放射型透過型電子顕微鏡 200kV JEM-2010F ×
TEM 透過型電子顕微鏡 100kV JEM-1010BS ×
TEM 透過型電子顕微鏡 120kV H-7650 Zero.A
FE-SEM 電界放射型走査電子顕微鏡 SU9000 ×
FE-SEM 電界放射型走査電子顕微鏡 S4700 ×
FE-SEM 電界放射型走査電子顕微鏡 JSM-7500F
SEM 走査電子顕微鏡 VE-9800
FIB 収束イオンビーム試料加工装置 JEM-9310FIB
SPM 走査型プローブ顕微鏡 SPM-9600 ×
UMT・UCT ウルトラミクロトーム
ウルトラクライオトーム
UMT-UCT
UMT-UC7
CP クロスセクションポリッシャー SM-09010CP
SM-09020CP
試料作製 低角度イオンポリッシングシステム Model 691 ご利用については
お問い合わせ より
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超音波ディスクカッター Model 601
ディンプルグラインダー Model 656
真空蒸着装置 JEE-420T
マグネトロンスパッタコーター E-1030
カーボンコーター VC-100W
凍結試料作製装置 JFD-9010

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