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依頼分析

 利用上の注意

【以下をご理解の上でお申し込みください】

  • 依頼分析は東京工業大学に所属する方のみ利用可能です。
  • 予算シールの発行手続きを行ったうえでお申し込みください。
  • かならず本学予算詳細責任者の許可を得てからお申し込みください。
  • 月ごとに利用料金を請求いたします。 詳しい支払内容は右記メニューより「利用料金」をご確認ください。
  • 当部門の利用で得られた結果を用いた発表等には大岡山分析部門の利用を明記し、発表情報を当部門に報告することをお願いします。

 お申し込みの流れ

1.申込書の作成 ご依頼内容に対応する装置の申込書をダウンロードし、必要事項をご記入ください。分析手法選定について相談ご希望の方は「お問い合わせ」からご連絡ください。
 
2.お申し込み 本学予算詳細責任者の許可を受けたら、申込書をメールに添付して「soudan@cama.(titech.ac.jp)」宛に送信してください。
*この時点では捺印欄は必須ではありません
 
3.お打ち合せ 担当者からご連絡を差し上げます。
依頼内容や立ち会い日程等について打ち合せをさせていただきます。
 
4.申込書(捺印済)
  サンプル受け渡し
予算詳細責任者欄に捺印済みの申込書とサンプルをご提出ください。
打ち合せの際に直接お預かりすることも可能です。
 
5.測定・分析 職員が分析いたします。
立ち会い分析もできますので担当者とご相談ください。
 
6.結果確認 測定・分析終了後に担当者から連絡を差し上げます。分析結果をご確認ください。測定・分析データとお預かりしたサンプルをお渡しします。
 
7.お支払い 四半期毎に、利用料金をまとめてお支払いいただきます。
詳しい支払内容は 利用料金 をご確認ください。

 依頼分析申込書(※申込書のダウンロードは学内限定です)

装置種 依頼分析申込書
X線回折装置
(XRD:MPD、MRD、D8、Mini Flex)
X線プローブマイクロアナライザー
(XRF:XPMA)
X-ray ver 5.2.doc
ICP発光・質量分析
(ICP-OES、ICP-MS)
ICP ver 4.2.doc
レーザー顕微ラマン分光光度計
(RAMAN)
Raman ver 5.2.doc
フーリエ変換赤外分光分析
(FT-IR)
FT-IR ver 5.2.doc
飛行時間型二次イオン質量分析装置
(TOF-SIMS)
TOF-SIMS ver 4.1.doc
電界放射型電子銃オージェ分光装置
(FE-Auger)
Auger ver 5.2.doc
電子プローブマイクロアナライザー
(EPMA)
EPMA ver 5.2.doc
電子顕微鏡および関連装置
(FE-TEM、TEM、FE-SEM、SEM、
 FIB、UMT、CP)
EM ver 5.2.doc
上記以外の装置についてのご依頼、ご相談 お問い合わせ」よりご連絡ください

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